产品概述
TIME2190超声波测厚仪采用脉冲反射式测量原理，适合各种材料厚度的测量。仪器通过探头发出超声波以恒定速度在材料内部进行传播，并在其底面得到反射波后进行接收。
该款仪器可对各种板材和加工零件作精确测量，广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。
基本原理
超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似。探头发射的超声波脉冲进入被测物体后在物体内部传播，当到达材料的分界面时被反射回探头，通过精确计算超声波在材料中的传播声程便可推知被测材料的厚度。
仪器的特性
-可显示A扫描波形，便于对复杂工件进行回波分析和测量；
-具有多种测量方式，可设置空白以屏蔽余震或杂波；
-仪器可适配多种类型探头，单双晶适用；
-可穿透涂层测量，可分层测厚，同时显示；
-任何模式下分辨率为0.001、0.01、0.1毫米可选（或0.0001、0.001、0.01
英寸可选）；
-增益调节范围0-99dB；
-可调电压可变脉宽方波脉冲发生器；
-具有单值B扫描显示功能；
-具有报警功能，可自由设置报警上、下限；
-具有差值、最大最小值显示方式；
-可存储多达500000个测量值和波形；
-用户可开启高达每秒20次的快速测量模式；
仪器各部分及名称（如下图所示）
测量范围
探头类型 | 测量范围（钢） | 示值误差 | 使用模式 |
5MHz双晶窄脉冲探头 | 1.2～225.0mm 3.0～100.0mm | H＜10mm，±0.05mm； H≥10mm，±(0.01+ 0.5%H)mm | 标准 回波-回波 |
5MHz单晶接触探头 | 5.0～225.00mm 5.0～100.00mm | H＜10mm，±0.05 mm； H≥10mm，±(0.01+ 0.5%H) mm | 标准 回波-回波 |
2MHz双晶探头： TSTU32 | 3.0～300.00mm | H＜10mm，±0.1 mm； H≥10mm，±(0.01+1%H) mm | 标准 |
1MHz单晶接触探头 | 10.0～500.00mm | H＜10mm，±0.1 mm； H≥10mm，±(0.01+1%H) mm | 标准 |
15MHz单晶延迟块探头 | 3.0mm～20.0mm 0.25mm～10.0mm | H＜10mm，±0.05 mm； H≥10mm，±(0.01+ 0.5%H) mm | 界面-回波 回波-回波 |
性能参数
△ 显示分辨力 | 0.001mm 或0.01mm或0.1mm可选 |
△ 声速调节范围 | 508 m/s～18699m/s |
△ 重复性 | 遵守JJF1126 5M及以上探头重复性：0.03mm 2M及以下探头重复性：0.1mm |
△ 探头参数 | 详见4.1-测量范围中的探头参数 |
△ 显示器 | 彩色TFT液晶显示器，320x240像素,5位显示，具有背光灯 |
△ 测量功能 | 高精密测量工具，适合测量金属、塑料、陶瓷、玻璃及其他任何超声波的良道导体。常规测量、最小厚度捕获、最大厚度捕获、差值、上下限LED报警。 |
△ 特殊材料测量 | 增益调节范围：0-99dB；屏蔽条：始脉冲-底波、界面波-底波、回波-回波模式均可调节。斜率：可调节至11。以上三个功能、组合使用，可测量各种特殊材料，比如含钼类不锈钢（316、317等）、玻璃钢、球化率极差的铸铁、灰铁等材质。 |
△ 设置锁定 | 对校准数据等进行锁定 |
△ 脉冲发生器 | 可调方波脉冲发生器 |
△I/O端口 | USB通讯 |
△ 发射电压 | 60V、110V、150V、200V可选 |
△ 发射脉宽 | 随探头频率改变 |
△ 增益范围 | 0-99dB，1dB步进 |
△ 频率范围 | 0.5 Mhz～20Mhz |
△ 测量速率 | 标准(4Hz)、快速(20Hz) |
△ 探头设置 | 10组固定探头设置和22组自定义探头设置 |
△ 数据存储 | 500个数据文件，每个可存储1000的测量值和波形 |
△ 使用环境温度 | 0℃～40℃ |
△ 电源 | 根据客户需求，可选：三节5号干电池\ 镍氢充电电池 |
△ 工作语言 | 中文、英文 |
△ 功耗 | 工作电流不超过250mA（关闭WiFi，亮度暗，4.5V下） |
△ 外形尺寸 | 187mm×87 mm×43 mm |
△ 外壳 | 耐冲击、防尘、仿溅，符合IP65 |
△ 重量 | 360g左右 |
△ 适用标准及规范 | ●Q/HD SDF0001-2014超声波测厚仪 ●JJF 1126-2004超声波测厚仪校准规范 ●GB/T 6587电子测量仪器通用规范 |
▲ 标准配置 | ●主机 ●进口5MHz单晶探头 ●耦合剂 |
▲ 可选配件 | ●标准试块 ●1MHz单晶接触探头 ●TSTU32 探头 ●5MHz单晶接触探头 ●15MHz单晶带延迟块探头 |
客服1