产品特点

台式X荧光光谱仪能量色散X荧光光谱仪：

台式X荧光光谱仪能量色散X荧光光谱仪融合经验系数法、基本参数法（FP法）等分析方法，测试数据的准确性能得到全面保证。

台式X荧光光谱仪能量色散X荧光光谱仪经验系数法：仪器依据对标准样品的测定，确定影响系数。对标准样品要求高，需和待测样品类型相近，校正模型简单。

台式X荧光光谱仪能量色散X荧光光谱仪 基本参数法（FP法）：仪器根据实际检测物质，通过对多种物理量建模计算确定参数。对标准样品要求不高，计算较复杂，适合缺少对应标样的物质检测。 

软件功能

元素含量分析范围为2 PPm到99.99%

 采用BG内标校正，提高非定性式样测量精度

 用户自定义多曲线多光谱拟和分析方法

 全自动定量分析报告 简捷准确

 自适应初试化校正

光谱的自动获取和显示。

具有自动检测仪器工作状态的功能。

自动判别样品及自动分析。提供扩展接口，进一步作其他元素分析，从钙到铀元素。

硬件

美国进口Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统

美国SPELLMAN高压发生器

美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好

美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好

美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好

尺寸＆重量

550（W）×450(D)×450(H)mm

60Kg（主机部分）

电源与环境要求

电源：220V±10％   50Hz

环境温度：10℃-28℃

环境湿度: ≤70 ％RH(25℃室温) 

台式X荧光光谱仪能量色散X荧光光谱仪：

无损检测

在无标准样品时亦可准确分析

测量时间比化学方法短，不需要辅助材料

计算机进行数据处理，分析快速准确

高分辨率图形即时显示，由不同色块加以判断区分

硅半导体探测器

元素含量分析范围为2 PPm到99.99%

采用BG内标校正，提高非定性式样测量精度

全自动定量分析报告 简捷准确

自适应初试化校正

光谱的自动获取和显示

具有自动检测仪器工作状态的功能

自动判别样品及自动分析